本發明提供了一種芯片檢測標記計數方法及其設備,包括以下步驟:開啟電機,芯片前進,芯片依次經過到位檢測工位、次品芯片檢測工位、芯片讀寫性能檢測工位、標記工位。在此過程中,次品芯片檢測工位對芯片的孔進行檢測,芯片讀寫性能檢測工位對芯片進行讀寫性能檢測,標記工位按照前述檢測反饋的信息對芯片進行新的標記。本發明提供的方案具有較高的自動化程度,節省空間,便于操作,能夠進行個性化標記,可廣泛地在IC卡生產企業中應用。
聲明:
“一種芯片檢測標記計數方法及其設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)