本說明書實施例提供一種在IC驗證環境中芯片讀寫性能的自動檢測系統和方法,系統包括:用例實現模塊,用于在回歸測試過程中通過預設測試用例控制芯片中每一個待檢測接口傳輸預設量的讀寫數據,并觸發預設檢測模塊對讀寫數據進行數據量的統計;預設測試用例為預先添加至回歸測試所采用的測試用例集中輔助實現讀寫性能檢測的測試用例;預設檢測模塊,用于在所統計的數據量達到預設量時,根據所用的時間計算待檢測接口的讀寫性能實際值;腳本處理模塊,用于在回歸測試結束后根據待檢測接口對應的讀寫性能實際值,確定對應的讀寫性能檢測結果,并將讀寫性能檢測結果發送至打印接口進行打印。本發明可以快速定位到問題,提高效率。
聲明:
“在IC驗證環境中芯片讀寫性能的自動檢測系統和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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