本發明屬于光纖陀螺熔接性能評價方法,為了解決現有技術中高精度光纖陀螺無法在裝配完成后對裝配性能進行有效評價的技術問題,提供一種光纖陀螺光路熔接性能評價方法,將光譜儀連接于2*2耦合器與光電探測器之間熔接點,通過光譜儀上顯示的圖譜判斷保偏光纖與保偏光纖之間熔接點是否存在異常,能夠在裝配完成后對熔接點熔接質量進行有效評價,無需拆除所有器件,可在確定異常熔接點后再對該熔接點重新熔接,本發明的方法簡單直觀,易于現場測試分析。
聲明:
“一種光纖陀螺光路熔接性能檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)