本實用新型公開了一種集成電路電路板的耐熱性能檢測裝置,涉及到集成電路檢測技術領域,包括箱體,箱體的兩側內壁均固定設置有擴口罩,擴口罩的內部固定設置有多個加熱電阻絲,箱體的內部下端設置有活動板,活動板的頂端固定設置有多個呈等間距分布的U形夾塊,箱體的正面下端設置有密封門,且密封門的背面與活動板的正面固定連接,箱體的頂端內壁中部固定設置有固定板。本實用新型通過活動板上設置有多個U形夾塊,同時通過阻尼凸起的設置,能夠將電路豎直卡在多個U形夾塊和阻尼凸起之間,并且通過兩個擴口罩的設置,兩個擴口罩的內部的多個加熱電阻絲能夠同時對電路板的兩面進行加熱,使電路板受熱均勻,有利于提高檢測的精確性。
聲明:
“一種集成電路電路板的耐熱性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)