本實用新型公開了一種厚膜電路性能檢測臺架,包括檢測臺,所述檢測臺上設有用于厚膜電路板檢測的溫度檢測工位,振動干擾可靠性檢測工位以及電磁干擾檢測工位;檢測臺上對應溫度檢測工位、振動干擾可靠性檢測工位以及電磁干擾檢測工位分別設有溫度檢測機構、振動檢測機構以及電磁干擾檢測機構;所述溫度檢測機構包括加熱爐、電源以及示波器;厚膜電路板連接電源以及示波器,并置于加熱爐中;本實用新型結構設置巧妙且布局合理,本實用新型設計溫度檢測工位、振動干擾可靠性檢測工位以及電磁干擾檢測工位配合溫度檢測機構、振動檢測機構以及電磁干擾檢測機構進行厚膜電路板的溫度可靠性、振動連接可靠性以及電磁干擾可靠性檢測。
聲明:
“一種厚膜電路性能檢測臺架” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)