本實用新型公開了一種半導體在不同溫度下性能檢測設備,包括:檢測箱,所述檢測箱前后端分別通過鉸鏈轉動安裝有密封門,所述檢測箱內腔表面安裝有若干個加熱管,所述檢測箱內腔上端安裝有兩個溫度監測模塊,所述檢測箱內腔安裝有兩個可升降移動的升降架。本實用新型中,通過隔熱板,可以使其檢測箱內形成兩個腔室,每個腔體通過不同的加熱管可以形成不同溫度,從而能夠使得半導體在一次檢測后,可以直接進入預設好溫度的第二個腔室內進行二次檢測,提高了檢測的效率,并且通過可密封的隔熱板,可以防止兩個腔室內的溫度相互影響,通過C型槽可以套接插入半導體的兩端,將其架起懸空,使得半導體每個面都能接觸到溫度。
聲明:
“一種半導體在不同溫度下性能檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)