本發明涉及一種便于收集半導體芯片的性能檢測機構,它包括機架、配電控制箱和操作顯示屏,機架上設置有中部轉盤檢測裝置和側部轉盤檢測裝置,中部轉盤檢測裝置包括中部轉軸,中部轉軸套接有中部檢測轉盤和中部安裝轉盤,中部檢測轉盤上開設有檢測孔,且中部安裝轉盤上安裝有穿出檢測孔的取料裝置,側部轉盤檢測裝置包括與側部轉動電機連接的側部轉軸,側部轉軸上套接有側部轉盤,側部轉盤上設置有與半導體芯片配合的載具,側部轉盤位于中部轉盤的下部,側部轉盤上的一個載具與穿過中部轉盤的一個取料裝置對接;本發明通過中部轉盤檢測裝置和側部轉盤檢測裝置相互配合,實現半導體芯片的多個檢測工序一體化進行,極大的提高了檢測的效率,降低了檢測工時。
聲明:
“一種便于收集半導體芯片的性能檢測機構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)