本申請公開了一種雙極型晶體管性能檢測裝置,包括:所述裝置包括:脈寬調制控制器、反相器、半橋驅動器、被檢測對象、燈泡以及數字直流電壓表電流表,其中,所述被檢測對象包括單個被檢測晶體管或者由多個被檢測晶體管組成的晶體管模塊。上述方案,實現準確測試IGBT是否準確的導通與關段,結合萬用表可以準確的測量出待檢測IGBT模塊半管的情況。
聲明:
“一種雙極型晶體管性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)