本實用新型涉及PTC發熱芯片技術領域,尤其是一種PTC發熱芯性能檢測裝置,包括盒體,所述盒體內部中端水平焊接有固定板,所述盒體內部兩側上端中部均開設有豎槽,所述豎槽內滑動設置有滑柱,兩個所述滑柱之間連接有板體,所述板體下端均勻安裝有多個溫度測試針,所述固定板上端兩側與板體下端兩側之間連接有彈簧,所述盒體內部下端通過滑動機構滑動設置有移動架,所述移動架內部安裝有多個U型盒,所述U型盒內部卡設有PTC芯片本體,所述U型盒一側上端開設有貫穿U型盒的圓孔,所述盒體一側下端開設有方形孔,所述盒體一側上端安裝有LED顯示器。本實用新型結構穩定,能夠一次性對多個PTC發熱芯片進行溫度檢測,且操作便捷。
聲明:
“一種PTC發熱芯性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)