本實用新型提供一種集成電路的抗干擾性能檢測設備;包括設備架,設備架的底部通過螺栓安裝有抗干擾箱,且抗干擾箱的內部通過軸承活動連接有螺柱,螺柱的外壁螺紋連接有移動件,螺柱的一端焊接有手柄,移動件的頂部通過螺栓安裝有抗干擾架,抗干擾架的外壁兩側均固定安裝有測試桿,測試桿的外部固定繞設有電磁圈,設備架頂部的一側焊接有調整箱,調整箱的內壁一側通過螺栓安裝有電機,且電機的端部焊接有驅動件,調整箱的頂部活動插接有豎直桿,本設計在抗干擾箱中的螺柱轉動后,螺柱外部的移動件能夠將抗干擾架和測試桿移動至集成電路附近,從而使集成電路進行抗干擾的檢測,且抗干擾強度能改變。
聲明:
“一種集成電路的抗干擾性能檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)