本實用新型提供的存儲器芯片的性能檢測裝置包括:主體(7);用于連接存儲器芯片的芯片連接裝置(8);用于輸入清空指令的操作按鍵(9);以及控制模塊(10);芯片連接裝置(8)和操作按鍵(9)分別設置在主體(7)的外表面,控制模塊(10)設置在主體(7)的內部,控制模塊(10)包括用于根據所輸入的清空指令對存儲器芯片執行清空操作、在清空操作完成之后輸出表示清空成功的電信號的清空單元(11),操作按鍵(9)和芯片連接裝置(8)分別與控制模塊(10)的清空單元(11)電連接。采用本實用新型提供的性能檢測裝置可以避免頻繁更換機車存儲器芯片,降低檢修成本,并提高機車運行安全性。
聲明:
“一種存儲器芯片的性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)