本發明公開一種半導體照明產品散熱性能檢測裝置,包括:物理特性參數輸入模塊,采集導體照明產品的物理特性參數;快速輻射功率測試儀,采集半導體照明產品輻射量數據;電參數發生及測量儀,輸入功率至半導體照明產品,測量其輸出電信號;溫度探測器,探測半導體照明產品內、外測試點溫度信號;變環境測試積分球,設定半導體照明產品環境參數;中央監控及處理計算機,接收上述參數后運算處理;參數分析及等效變換模塊,將半導體照明產品光電特性及物理特性歸一化變換,推算等效標準模型狀態下工作參數,中央監控及處理計算機根據工作參數輸出測試數據,曲線及綜合分析報告。本發明測試結果能夠基本復原使用環境,減小測試環境差異而造成的誤差。
聲明:
“半導體照明產品散熱性能檢測裝置及其檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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