本發明涉及一種基于模型識別的集成芯片功能性能檢測方法測方法,包括如下步驟:步驟1:由主控平臺讀取IBIS模型文件,由模型解析單元分析出芯片的型號以及第一個輸入引腳的I/O特征曲線,把特征曲線翻譯成可測試的參數值,通過指令發送給參數接收/發送單元,再將此指令下發給信號模擬和檢測裝置,信號模擬與檢測裝置的微處理器根據控制信號源產生模擬電壓或邏輯電平經待測芯片引腳驅動與保護電路給待測芯片輸入引腳;步驟2:開啟高速ADC,實時讀取被測芯片輸出引腳端的參數值并記錄,啟動參數接收/發送單元接收當前組輸出信息并保存。使用IBIS模型作為集成芯片測試的依據,不再需要去獲取專用的SCPI文件??梢詫崿F對任一芯片的功能與性能測試。
聲明:
“一種基于模型識別的集成芯片功能性能檢測方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)