本發明提供了一種光學傳感器性能檢測方法,其使用一種制冷檢測裝置,該裝置包括主機體,所述主機體頂部設有太陽能蒸發機構,還包括連接太陽能蒸發機構和主機體之間的支架底座,所述支架底座上還設置有驅動太陽能蒸發機構轉向的轉向機構,所述主機體內設有溶解吸熱腔,所述溶解吸熱腔內設有飽和溶液結晶腔,位于所述溶解吸熱腔下方的所述主機體左側端壁上開設有吹風口;本發明的一種光學傳感器性能檢測方法在整體結構上更加合理和巧妙,使用起來也非常方便,通過具有吸熱反應的鹽溶解吸熱降溫,同時將鹽溶液通過太陽能加速蒸發成飽和濃溶液,最后通過降溫結晶的方式將溶解的鹽結晶回收,并重復利用。
聲明:
“一種光學傳感器性能檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)