本實用新型公開了一種霍爾集成電路性能檢測裝置,涉及霍爾集成電路性能檢測技術領域,包括底座,底座頂部前側固定連接有治具,底座頂部后側固定連接有直角彎板,直角彎板上設有升降組件,所述升降組件底端固定連接有移動組件,所述移動組件上固定連接有檢測針,所述治具內部通過緩沖機構連接有霍爾集成電路,所述緩沖機構包括限位組件、彈簧組件和安裝組件,所述限位組件固定連接在治具內部,所述安裝組件通過彈簧組件連接在限位組件上,所述安裝組件與彈簧組件均位于治具內部,相對于現有技術,本實用新型可有效對霍爾集成電路受到的過度擠壓力進行緩沖,即可有效對霍爾集成電路進行防護,避免霍爾集成電路被壓損,從而避免經濟損失。
聲明:
“一種霍爾集成電路性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)