本申請涉及一種測量設備性能檢測方法、裝置、計算機設備。方法包括:獲取待測測量設備第一時間點和第二時間點的測量數據、參考測量設備第一時間點和第二時間點的參考性能數據;第一時間點和第二時間點是目標測試時間段內的時間點,目標測試時間段是待測測量設備的測試性能數據逐漸偏離真實性能數據的時間段;基于第一測量數據和第二測量數據分別進行計算得到第一測試性能數據和第二測試性能數據;計算第一測試性能數據和第一參考性能數據的第一誤差數據,計算第二測試性能數據和第二參考性能數據的第二誤差數據;基于第一誤差數據和第二誤差數據之間的誤差變化程度確定待測測量設備的性能檢測結果。采用本方法能夠提高測量設備的性能檢測效率。
聲明:
“測量設備性能檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)