本申請公開了一種存儲系統的時延性能檢測方法,能夠全面監測存儲系統中IO請求棧的各個層,得到IO請求在每層的時延;然后根據基準時延模型中同類型IO請求在整個IO請求路徑上的平均時延,篩選出時延離群點;最終根據基準時延模型中同類型IO請求在每層的平均時延,確定IO請求棧中導致所述時延離群點的時延瓶頸層。實現了檢測并分析存儲系統的時延瓶頸的目的,且整個檢測過程覆蓋度高,可靠性高。此外,本申請還提供了一種存儲系統的時延性能檢測裝置及設備,其技術效果與上述方法的技術效果相對應。
聲明:
“一種存儲系統的時延性能檢測方法、裝置及設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)