本發明涉及貼片電容技術領域,且公開了一種貼片電容及其性能檢測方法,包括陶瓷介質膜片,所述陶瓷介質膜片一側設置有內電極,陶瓷介質膜片兩側分別包覆設置有外電極,所述外電極一側設置有鎳層,所述鎳層一側設置有錫層,所述陶瓷介質膜片兩側分別設置有散熱層,所述散熱層內部設置有導熱片,所述導熱片一側設置有散熱孔,所述內電極一端設置有刻度條。該一種貼片電容及其性能檢測方法,通過增加輔助檢測件進行輔助檢查,通過結構的改良,避免對產品的破壞,可直接從產品外部觀測到,檢測更為方便,提高作業效率,降低生產成本。
聲明:
“一種貼片電容及其性能檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)