本發明提供了一種LED光電性能檢測系統及檢測方法,包括:TEC控制器、加熱平臺、水箱、光電檢測儀;其中,TEC控制器與加熱平臺電連接,用于控制加熱平臺的溫度;水箱通過水管與加熱平臺連接,用于快速冷卻加熱平臺;加熱平臺放置于光電檢測儀的置物臺的一個端面上,用于控制待檢測LED器件的工作溫度。從而實現了實時檢測LED器件在不同恒定溫度下的光電性能,檢測的溫度范圍更廣,能夠檢測LED器件在低溫與高溫情況下的光電性能,模擬LED器件在極端條件下照明情況;同時,也解決了目前冷熱沖擊系統降溫升溫慢的問題,并且能夠檢測LED器件在溫度突變的情況下的光電性能,模擬LED器件照明在溫度沖擊條件下的光電性能。
聲明:
“LED光電性能檢測系統及檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)