本申請涉及中子探測領域,提供了一種中子探測器性能檢測方法、裝置、系統、計算機設備和存儲介質。本申請可提高中子探測器性能檢測的準確性。該方法包括:通過獲取待測中子探測器采集的多個原始脈沖,獲取多個原始脈沖的脈沖特征信息,將脈沖特征信息與包含性能判斷特征與中子探測器已知性能信息之間的多組映射關系的性能判斷特征集進行匹配,獲得匹配到的性能判斷特征對應的已知性能信息,將該已知性能信息作為待測中子探測器的性能檢測結果。
聲明:
“中子探測器性能檢測方法、裝置、系統和計算機設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)