本實用新型公開一種芯片性能檢測系統及其芯片性能檢測裝置,其中,芯片性能檢測裝置,包括:檢測電路,包括至少兩個電阻和電源,所述至少兩個電阻串聯連接;探針組件,所述探針組件包括探針:第一移動組件,用于放置待檢測芯片,并將所述芯片的至少兩個引腳移動至所述探針對應的區域;第二移動組件,用于將所述探針與所述芯片的至少兩個引腳接觸,以使得所述至少兩個引腳通過所述探針電連接至所述檢測電路。本實用新型技術方案旨在解決現有技術中不能完全將測出電性能不達標的芯片的技術問題。
聲明:
“芯片性能檢測系統及其芯片性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)