本發明屬于F元素微區原位測試技術領域,具體涉及一種用于測定天然礦物中F含量的電子探針定量分析方法。本發明的方法包括以下步驟:將天然礦物樣品磨制成待測樣品,對待測樣品與標準樣品鍍碳;利用X射線能譜譜圖查找確定待測含F礦物;在相同定量分析條件下依次測量標準樣品計數強度以及待測含F礦物計數強度;對比分析標準樣品計數強度和待測含F礦物計數強度,對對比分析結果進行修正,得到F元素含量。本發明解決了現有方法對天然礦物中F元素含量測量不準確的技術問題,通過詳細周密的實驗方案設計,最大限度地排除了測試過程中的干擾因素,確定了最佳的電子探針分析測試條件,實現了準確測定微觀尺度下天然礦物中F元素含量。
聲明:
“用于測定天然礦物中F含量的電子探針定量分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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