本發明涉及一種微米級顆粒樣品的氣壓顯微操縱系統及方法,其方法為先把中空玻璃針尖固定到微控制器的夾持桿上,利用顯微鏡在放有顆粒樣品的樣品臺上找到待提取的單個顆粒樣品,開啟氣壓系統提供的負壓捕獲樣品到針尖尖端,并在更換樣品臺后利用脈沖正壓釋放被靜電吸附的單個顆粒樣品,期間利用顯微觀察和成像系統記錄和調控整個樣品移動和操縱過程。此方法簡單高效,成功率高,較好的解決了微小尺寸稀有樣品單個顆粒的轉移和操縱,適用于各種固體材料及礦物。系統結構簡單、易于搭建,在生物、材料及地質、行星學領域有廣泛的應用。
聲明:
“微米級顆粒樣品的氣壓顯微操縱系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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