本發明專利屬于電阻率測深解釋領域,具體公開一種電阻率測深的解釋及繪圖方法,該方法如下:整理及準備數據;繪制電阻率曲線;根據電阻率曲線形態判斷其類型;根據電阻率曲線類型給定電性層電阻率及厚度;運行程序、計算T函數擬合誤差;保存程序中的計算結果;根據計算結果繪制剖面等值線斷面圖;繪制地質斷面圖等。使用本方法進行電阻率測深數據解釋和繪制圖件,具有以下優點:1.操作簡單、方便;2.通過T函數擬合,解釋結果更接近于實際;3.該解釋軟件可為基層物探技術員的數據處理解釋提供較多便利。本方法適用于電阻率測深法的數據解釋成圖,為野外生產提供較為有意義的指導。
聲明:
“電阻率測深數據處理解釋與繪圖方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)