本發明涉及寶石鑒定技術領域,具體公開了一種基于LA?ICP?MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法,包括以下步驟:步驟1:建立寶石級鋯石的產地鑒定模型;準備待鑒定的樣品,選擇美國地質調查局研制的標準樣品BIR?1G和BHVO?2G作為外標;步驟2:采用LA?ICP?MS技術,將步驟1的待鑒定樣品和標準樣品放入激光剝蝕系統樣品倉中進行激光剝蝕,將采集的微量元素數據進行分析,并與步驟1的產地鑒定模型進行對比,得到鑒定結果。本專利提供的鑒定方法,能夠快速完成寶石級鋯石的產地鑒定,填補了目前寶石級鋯石產地鑒定的空白。
聲明:
“基于LA-ICP-MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)