本發明公開了一種巖石結構面粗糙度高精度測繪裝置及其測繪方法,其裝置包括巖石結構面數據提取設備和圖像處理系統;巖石結構面數據提取設備利用激光位移傳感器,用于提取巖石結構面的實時數據;圖像處理系統用于對巖石結構面數據提取設備提取的實時數據進行分析處理,得到巖石結構面的粗糙度。本發明公開一種運用在地質領域,能夠準確獲取巖體結構面起伏曲線的裝置。本發明裝置具有體積小、野外攜帶方便、處理速度快和操作簡易等優勢。
聲明:
“巖石結構面粗糙度高精度測繪裝置及其測繪方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)