本發明提供了一種非均質型斷層的封閉性分析方法及裝置,該方法包括:根據目標區域的測井數據、地層特征數據和斷層特征數據,建立非均質型斷層地質模型;從非均質型斷層地質模型中,識別出多個地層中非均質型斷層的兩盤的泥巖層厚度值;根據多個地層中非均質型斷層的兩盤的泥巖層厚度值,確定多個地層中非均質型斷層的封閉因子;根據多個地層中非均質型斷層的封閉因子,分析每一地層中非均質型斷層的封閉性。本發明可以分析非均質型斷層的封閉性,準確度高。
聲明:
“非均質型斷層的封閉性分析方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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