本發明公開了一種淺層橫向高分辨率瑞雷波勘探方法及系統,包括:獲取待測區域內的地震波數據;從所述的地震波數據中提取瑞雷波數據;采用相鄰道相位差方法計算瑞雷波的頻散曲線;基于得到的頻散曲線,采用深度?半波長轉換原理得到瑞雷波相速度對應的深度剖面;根據地質任務對剖面進行解釋,得到地基加固構件的質量以及地質異常體的強弱。本發明能夠較為精確地對地基加固構件(如攪拌樁碎石樁、堤壩防滲墻等)進行質量檢測或評價;也能夠提高對地下小型地質異常體的橫向分辨能力。
聲明:
“淺層橫向高分辨率瑞雷波勘探方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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