本發(fā)明提供的一種高可靠抗輻照玻璃鈍化快恢復整流二極管制造方法,采用鉬或鎢作為電極引線(xiàn),管芯采用鋁作為焊料,芯片采用深結擴散工藝,臺面造型為正斜角造型,該芯片結構降低表面電場(chǎng),同時(shí)在進(jìn)行玻璃鈍化封裝前,采用酸、堿腐蝕工藝及鈍化工藝對芯片臺面進(jìn)行保護,然后采用特殊玻璃粉進(jìn)行高溫鈍化封裝成型;本發(fā)明芯片成正斜角,降低了器件的表面電場(chǎng),提高了芯片表面的穩定性;在芯片腐蝕過(guò)程中最大限度的清潔了芯片表面,減少了界面電荷的影響,使器件具有良好的雪崩擊穿性能,提升產(chǎn)品的可靠性;由于鈍化層較厚,同時(shí)具有一定的含鉛量使產(chǎn)品能在輻照條件下穩定工作。
聲明:
“高可靠抗輻照玻璃鈍化快恢復整流二極管制造方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)