本申請涉及地質勘察的領域,尤其是涉及一種地質勘察用輔助支架,其包括上支撐板、位于上支撐板下方的下支撐板以及垂直固接于上支撐板和下支撐板之間的若干主支撐桿,在上支撐板上開設有供取樣器穿過且與取樣器適配的第一讓位孔,在下支撐板上開設有供取樣器穿過且與取樣器適配的第二讓位孔,第一讓位孔和第二讓位孔軸線重合。本申請具有提升取樣器穩定性的效果。
聲明:
“地質勘察用輔助支架” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)