本發明公開了一種低品位菱鎂礦的去雜提純方法,包括以下步驟:(1)以低品位的菱鎂礦為原料,將菱鎂礦進行過濾,濾掉菱鎂礦中的大塊雜質;(2)將菱鎂礦送入粉碎機中進行粉碎,粉碎參數為:研磨氣量為6~10m3/min,空氣壓力為1Mpa;(3)將粉碎后的菱鎂礦放入反射爐、回轉窯、懸浮爐、沸騰爐或隧道窯內于600~1000℃下充分焙燒;(4)將輕燒后的氧化鎂加水水化、自磨;(5)最后將氫氧化鎂粉末于600~900℃二次煅燒,得到去雜提純的輕燒氧化鎂粉。本發明的方法提高了氧化鎂除雜效率,提高了氧化鎂純度。
聲明:
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