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LiteScope?是為不同品牌的掃描電子顯微鏡（SEM）設計的“即插即用”的掃描探針顯微鏡。根據客戶需求，定制并提供適當的適配器和反饋機制，很容易通過四個螺絲將LiteScope?固定在電子顯微鏡的樣品臺上，通過線纜與控制器、電腦進行連接。LiteScope?通過可更換探針進行多種掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式。綜合分析包括：表面形貌表征、機械性能、電性能、磁性能。
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Nano Indenter? G200系統是一種準確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個數量級的形變測量。 該系統還可以測量聚合物，凝膠和生物組織的復數模量以及薄金屬膜的蠕變響應（應變率靈敏度）。 模塊化選項可適用于各種應用：頻率特定測試，定量刮擦和磨損測試，集成的基于探頭的成像，高溫納米壓痕測試，擴展負載容量高達10N 和自定義測試。
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原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM)經過30多年的發展后，從形貌測試及其它常規功能來看已經非常成熟。然而常規的原子力顯微鏡也越來越無法滿足科研人員在納米尺度下對于樣品進行多性質原位測試分析的需求，尤其在化學、光學、電學、熱學、力學等領域。
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透射電鏡多尺度、多視角（明、暗場像，電子衍射， 化學成分）的實驗分析能力，基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學實驗儀器，將為研究材料內部缺陷形成、演化行為提供實驗平臺。將三維納米操縱與360度旋轉耦合的三維重構樣品臺，是實現原子級三維重構提供設備支撐。將三維重構與原位光學、力學和電學等原位加載功能結合，實現對于三維結構演化的動態解析，無疑將對深化人類對于物質結構的認識提供支撐。
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Swift Tensile Stage原位拉伸臺是一款專為現代材料研究設計的多功能設備，適用于掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等多種顯微觀測系統。它支持EBSD、樣品加熱和冷卻，能夠實現“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學測試等多種模式，適用于薄膜及細絲力學實驗。該設備結構緊湊，兼容真空和電磁環境，采用超低速準靜態加載方式，便于在成像儀器下進行連續可視化原位監測，揭示載荷作用、材料變形損傷機制與微觀結構變化間的規律。
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Norcada提供了廣泛的MEMS電偏壓和電化學芯片。Norcada還可以提供客戶定制的軟件包，包括用于基于 STXM的應用程序的支架和MEMS芯片。主要提供兩種基于MEMS技術的原位系統，使用同一個SEM樣品臺既可以實現不同的原位解決方案電學、加熱等不同應用。
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陰極熒光成像光譜探測系統（Cathodoluminescence, CL）是一種高精度的分析工具，通常配置在掃描電鏡或透射電鏡中，能夠實現形貌觀察、結構和成分分析與陰極熒光光譜的結合研究，并支持全光譜熒光掃描成像。該系統利用高能量、小束斑的電子束激發樣品，具有高空間分辨率、高激發能量、寬光譜范圍和大激發深度等優點，特別適用于半導體材料與器件、熒光材料（如地質、考古材料）等的微觀分析。在微米、納米尺度的半導體量子點、量子線等熒光物質的研究中，陰極熒光技術能夠揭示發光性質及電子結構，具有重要的應用價值。
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Explorer是多功能的高真空研發和中試生產平臺，其配置可為電子束(e-beam) 蒸發、電阻蒸發或磁控濺射。所有三種配置中均可選配離子輔助沉積功能。Explorer可在半手動模式下使用，也可升級到全自動模式，一鍵自動化操作，可以減少系統停機時間。
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ezAFM是新設計的精致型原子力顯微鏡，具有設計緊湊、美觀大方、高穩定性、占用空間小等特點，而且軟件功能強大、操作簡單、用戶界面良好，而且價格實惠，性價比較為高。它是理想的實驗室用原子力顯微鏡，廣泛應用于高等教育、納米技術教育和基礎研究等領域。產品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFMAQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學、磁學等拓展模式，以及液相、真空環境等。
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通過將產品固定在拋光頭的較下面，拋光時，旋轉的拋光頭以一定的壓力壓在旋轉的拋光墊上，拋光液在拋光墊的傳輸和離心力的作用下，均勻分布其上，在硅片和拋光墊之間形成一層拋光液液體薄膜。拋光液中的化學成分與產品表面材料產生化學反應，將不溶的物質轉化為易溶物質，或者將硬度高的物質進行軟化，然后通過磨粒的微機械摩擦作用將這些化學反應物從產品表面去除，溶入流動的液體中帶走，即在化學去膜和機械去膜的交替過程中實現平坦化的目的，通過先進的工藝可實現納米級別的粗糙度效果。
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上海阜力測量設備有限公司的阜力觸摸屏便攜式分體粗糙度儀FL300R是一款專為表面粗糙度檢測設計的便攜式設備，采用分體結構與觸摸屏操作，適用于工業現場、實驗室等場景，可快速、精準測量工件表面的微觀幾何形貌參數（如Ra、Rz等），為質量控制與工藝優化提供數據支持。
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