本發(fā)明的預測晶體管故障的方法,屬于晶體管損傷預測方法的技術(shù)領(lǐng)域,解決預測晶體管因熱疲勞而失效的技術(shù)問(wèn)題。其包括獲取晶體管的導通壓降數據和結溫數據,并確定所述結溫數據和所述導通壓降數據的第一對應關(guān)系;根據所述第一對應關(guān)系確定晶體管的剩余使用壽命;獲取所述晶體管的已工作時(shí)間數據,并與所述剩余使用壽命數據的第二對應關(guān)系;根據所述第二對應關(guān)系確定晶體管的經(jīng)濟壽命數據,判斷所述經(jīng)濟壽命數據是否大于晶體管在臨界飽和狀態(tài)下所對應經(jīng)濟壽命數據,如果是,則判定所述經(jīng)濟壽命數據所對應的結溫,為晶體管熱疲勞失效的溫度點(diǎn)。本發(fā)明用以完晶體管的使用功能,滿(mǎn)足人們能對晶體管熱損傷預估的要求。
聲明:
“預測晶體管故障的方法及其系統” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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