本發(fā)明公開(kāi)了一種基于機器視覺(jué)的電子元件檢查方法,包括如下步驟:步驟一、收集電子元件表面的損害圖像樣本和電子元件無(wú)損害的圖像樣本,同時(shí)收集電子元件表面的損害圖像樣本對應的超聲波探傷信號以及電子元件無(wú)損害的圖像樣本對應的超聲波探傷信號;步驟二、對電子元件表面的損害圖像的損壞種類(lèi)進(jìn)行人工標注,得到標注后的電子元件表面的損害圖像樣本。本發(fā)明實(shí)現了對電子元件的視覺(jué)檢測與超聲檢測相結合的自動(dòng)檢測方法,通過(guò)兩種檢測方法結合,大大提高了檢測的準確性,此外實(shí)現了電子元件的自動(dòng)檢測,節省了人工,有效降低了漏檢率。
聲明:
“基于機器視覺(jué)的電子元件檢查方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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