本實(shí)用新型屬于電子技術(shù)類(lèi),涉及一種FPGA器件基本性能測試裝置,主要包括過(guò)流保護電路、電源轉換電路、BGA測試插座,FPGA外圍電路、I/O測試電路、指示燈電路等。用于快速測量FPGA基本性能,包括上電引導、I/O引腳短路開(kāi)路測試。由+5V電源適配器通過(guò)USB接口為檢測工裝供電,BGA測試插座用于固定被測芯片,測試時(shí)將被測芯片裝在BGA插座上。FPGA外圍電路包含PROM及外圍引導電路,PROM存放測試程序。I/O測試電路針對FPGA通用I/O特性,設計I/O輸出輸入驅動(dòng)電路,對每個(gè)FPGA引腳輸出輸入特性進(jìn)行測試。本測試裝置檢測FPGA芯片基本性能,用于芯片質(zhì)量控制,保證后續生產(chǎn)順利進(jìn)行。
聲明:
“一種FPGA基本性能測試裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)