本發(fā)明涉及半導體低維結構薄膜的制備方法,特別是利用倒置多孔氧化鋁模板,轉印有序點(diǎn)陣技術(shù),利用濺射技術(shù)制備有序高密度鍺納米點(diǎn)陣的制備方法。本發(fā)明采用經(jīng)典兩步陽(yáng)極氧化法制備多孔氧化鋁不通孔模板,然后利用濺射技術(shù),在保持高真空環(huán)境的工作室中,以高純氬氣為工作氣體,工作室濺射壓強0.5Pa~2Pa,生長(cháng)溫度600~800℃,濺射功率50W~100W條件下,在被移植到硅基底材料上生長(cháng)厚度<50nm硅緩沖層完成有序結構的轉印,然后呈有序結構分布的硅緩沖層上生長(cháng)鍺納米點(diǎn)陣。本發(fā)明具有生產(chǎn)成本低、可控性好、所制備鍺納米點(diǎn)陣具有密度高,有序性好等特點(diǎn)。
聲明:
“轉印倒置模板法制備有序鍺納米點(diǎn)陣” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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