基于帶電測試與有限元仿真的開(kāi)關(guān)柜優(yōu)化方法及該開(kāi)關(guān)柜

本發(fā)明涉及一種基于帶電測試與有限元仿真的開(kāi)關(guān)柜優(yōu)化方法及該開(kāi)關(guān)柜，該方法根據開(kāi)關(guān)柜型號結構進(jìn)行三維建模，獲得了開(kāi)關(guān)柜穿墻套管、母線(xiàn)室、觸頭盒電場(chǎng)的電場(chǎng)分布特征，并找出了電場(chǎng)集中點(diǎn)。在與現場(chǎng)局放測試對應研究分析后，找出局放異常原因，并提出改進(jìn)措施。從運維到選型，形成開(kāi)關(guān)柜的全生命周期管理。