本發明屬于光學元件性能檢測設備技術領域,具體涉及一種用于光學元件性能檢測的試驗臺及試驗臺安裝方法。該試驗臺包括基座和工件臺,所述基座用于支撐所述工件臺并能夠帶動所述工件臺共同移動,所述工件臺上設有橫向調節單元,所述基座包括支撐板,所述支撐板的下方設有可移動單元,所述可移動單元和所述支撐板之間設有高度調節單元,所述支撐板的上方的兩個對稱面上設有縱向調節單元,所述試驗臺的左、右兩側機架上均設有縱向限位單元。通過使用本發明所述的用于光學元件性能檢測的試驗臺及試驗臺安裝方法,能夠為工件臺提供一個可調節的安裝基準面,同時裝置本身具有能夠實現平移運動,在工件臺搬運過程中無需借助外部工具,簡化了搬運過程。
聲明:
“用于光學元件性能檢測的試驗臺及試驗臺安裝方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)