本發明提供一種光學暗室光學性能檢測方法與系統,識別空間幾何中光學暗室的墻面,將每個所述墻面劃設為單個檢測區域,對各所述檢測區域分別設置檢測點,對各所述檢測點進行反射率測試,獲取各所述檢測點反射率檢測結果,構建評價模型表征光學暗室光學性能檢測結果。整個過程中,采用合理的方式針對光學暗室幾何墻面設置檢測區域,并且在每個檢測區域中設置一定數量的檢測點,最終采用評價模型來表征光學暗室光學性能檢測結果。
聲明:
“光學暗室光學性能檢測方法與系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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