光學(xué)性能檢測裝置

本實(shí)用新型公開(kāi)一種光學(xué)性能檢測裝置，所述光學(xué)性能檢測裝置用于檢測光學(xué)系統的光學(xué)性能，所述光學(xué)系能檢測裝置沿光線(xiàn)傳輸方向依次包括激光光源與采集單元，所述光學(xué)系統設于所述激光光源與所述采集單元之間；所述光學(xué)性能檢測裝置還包括基座與移動(dòng)臺，所述移動(dòng)臺包括第一移動(dòng)臺，所述激光光源設于所述第一移動(dòng)臺；所述第一移動(dòng)臺與所述基座滑動(dòng)連接并環(huán)繞所述光學(xué)系統轉動(dòng)。本實(shí)用新型提供一種光學(xué)性能檢測裝置，旨在解決現有技術(shù)中對虛擬顯示設備的光學(xué)系統檢測難度大，檢測成本高的問(wèn)題。