本發(fā)明公開(kāi)了一種基于電子探針原位分析的全巖組份測試方法。對制作好的巖石光片或光薄片噴鍍碳導電膜,將噴鍍處理后的樣品放入電子探針樣品室進(jìn)行分析,在450~550倍的放大倍數下拍攝背散射電子圖像,對圖像中的不同礦物用電子探針波譜儀進(jìn)行精確定量分析,再對被拍攝的背散射圖像使用網(wǎng)格法統計不同礦物所占的面積百分比。取同一種礦物不同分析點(diǎn)的元素含量平均值與礦物的面積百分比的加權平均值得出的結果即為該巖石樣品的全巖元素含量。本發(fā)明方法具有不破壞樣品、原位微束分析、分析精度高、樣品制備簡(jiǎn)單和無(wú)污染等優(yōu)點(diǎn),在隕石、寶玉石和珍貴稀有巖石樣品分析中具有很好的應用前景。
聲明:
“基于電子探針原位分析的全巖組份測試方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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