金相顯微鏡觀(guān)察半導體用載樣臺

權利要求書(shū)： 1.一種金相顯微鏡觀(guān)察半導體用載樣臺，包括基座(1)，所述基座(1)的表面固定連接有連接架(2)，所述連接架(2)的表面固定連接有觀(guān)察臺(3)和載片臺(4)，其特征在于：所述載片臺(4)的內部設置有固定機構(5)，所述固定機構(5)用于固定載玻片的位置；所述固定機構(5)中包含有固定塊(51)，所述載片臺(4)的內部固定連接有轉動(dòng)塊(52)，所述轉動(dòng)塊(52)的表面開(kāi)設有轉動(dòng)槽(53)，所述載片臺(4)的內部通過(guò)塊與槽滑動(dòng)連接有固定軸(54)，所述固定軸(54)的表面固定連接有固定柱(55)，所述轉動(dòng)塊(52)的表面固定連接有操作塊(56)，所述操作塊(56)的表面開(kāi)設有操作槽(57)，所述操作塊(56)的表面通過(guò)操作槽(57)滑動(dòng)連接有操作桿(58)，所述操作桿(58)的表面固定連接有操作軸(59)，所述載片臺(4)的內部開(kāi)設有限位槽(510)，所述固定塊(51)的內部設置有伸縮機構(6)，所述伸縮機構(6)用于調整固定位置的中心。2.根據權利要求1所述的一種金相顯微鏡觀(guān)察半導體用載樣臺，其特征在于：所述伸縮機構(6)中包含有滑動(dòng)槽(61)，所述固定塊(51)的內部滑動(dòng)連接有伸縮塊(62)。3.根據權利要求2所述的一種金相顯微鏡觀(guān)察半導體用載樣臺，其特征在于：所述固定塊(51)和伸縮塊(62)的內部固定連接有轉動(dòng)柱(63)，所述固定塊(51)的內部通過(guò)轉動(dòng)柱(63)轉動(dòng)連接有連接塊(64)。4.根據權利要求3所述的一種金相顯微鏡觀(guān)察半導體用載樣臺，其特征在于：所述連接塊(64)的表面固定連接有連接軸(65)，所述連接塊(64)的表面通過(guò)連接軸(65)轉動(dòng)連接有轉角桿(66)。5.根據權利要求4所述的一種金相顯微鏡觀(guān)察半導體用載樣臺，其特征在于：所述轉角桿(66)的一端轉動(dòng)連接有滑動(dòng)軸(67)，所述滑動(dòng)軸(67)的表面與滑動(dòng)槽(61)的內表面滑動(dòng)連接。6.根據權利要求5所述的一種金相顯微鏡觀(guān)察半導體用載樣臺，其特征在于：所述轉角桿(66)的一端與滑動(dòng)軸(67)的表面轉動(dòng)連接。 說(shuō)明書(shū)： 一種金相顯微鏡觀(guān)察半導體用載樣臺技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本實(shí)用新型涉及顯微鏡技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種金相顯微鏡觀(guān)察半導體用載樣臺。背景技術(shù)[0002] 目前實(shí)驗室會(huì )用金相顯微鏡觀(guān)