本發明涉及冶金成分測定分析
技術領域：
，特別是涉及一種測定氧化鉬中鉬含量的x熒光熔片制備及分析方法。
背景技術：
：目前，絕大多數鋼廠都在使用氧化鉬(氧化鉬球)替代鉬鐵在冶金過程中使用，可以降低煉鋼成本，減少還原過程使資源和能源節約，但是目前氧化鉬球的分析僅有yb/t5039-2012氧化鉬鉬含量的測定鉬酸鉛重量法(化學法)，方法原理為試料用過氧化鈉熔融，或用硝酸、氫氟酸溶解后殘渣回收，使鉬轉化為可溶性鉬酸鹽，經分離干擾元素后，鉬與乙酸鉛反應生成鉬酸鉛沉淀，過濾，計算出試料中的鉬含量?；瘜W分析方法雖是推薦標準方法，但其分析周期長、步驟多，且需使用大量化學品試劑，難以適應企業生產節奏的加快、高質量產品的研發。采用儀器分析代替化學分析是必然趨勢，x射線熒光光譜法分析是目前較準確分析合金、輔料主量元素的較先進方法，雖然壓片分析簡單快速，但是物相和粒度很難與標樣一致，粒度效應、礦物效應、基體干擾嚴重，熔融法操作相對復雜，但是可以通過熔融使物象統一，消除粒度效應，通過稀釋，降低基體影響，使測量的精確度和準確度更好。為保證分析結果的準確性，使用熔融分析，此方法關鍵為玻璃熔片制備的溫度為950～1150℃，但是氧化鉬球熔點為790℃，高溫會產生升華，導致分析結果不準確。技術實現要素：為了解決以上技術問題，本發明提供一種測定氧化鉬中鉬含量的x熒光熔片制備方法，包括s1、將氧化鉬進行破碎，取樣品并研磨，制成日常分析粉末樣品；s2、選取日常驗收氧化鉬生產樣，使用yb/t5039-2012氧化鉬鉬含量的測定鉬酸鉛重量法(化學法)分析定值，制作內控標樣；s3、稱取標樣，加入混合試劑、抑制劑，攪拌均勻；s4、稱取熔劑，再稱取脫模劑，攪拌均勻；s5、將混合均勻的樣品、混合試劑、抑制劑置于熔融爐，建立一條氧化鉬熔融工作曲線，在抑制劑的作用下，低溫預熔，然后在高溫狀態下將熔劑與預熔后的產物熔制成穩定、均一、透明的玻璃片。技術效果：本發明中添加抑制劑，抑制氧化鉬(氧化鉬球)粉狀樣熔片過程中產生升華，保證分析準確。樣品的分析結果滿足相關國家化學分析標準中的精密度要求，可適用于鋼鐵企業合金的驗收、氧化鉬(氧化鉬球球)廠商的內部質控、出廠檢驗。本發明進一步限定的技術方案是：前所述的一種測定氧化鉬中鉬含量的x熒光熔片制備方法，具體步驟為：s1、將塊狀氧化鉬用輥破碎機進行破碎，通過網格法取縮分樣品6
聲明：
“測定氧化鉬中鉬含量的X熒光熔片制備及分析方法與流程” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：南京鋼鐵股份有限公司
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2025年08月05日 ~ 07日 
