本發明公開了一種多顆Norflash樣品同時測試的方法,基于測試平臺實現,所述方法包括:將多顆樣品連接到測試平臺,進行布線分配正確性測試;在布線分配正確性測試通過后,基于測試平臺的內部語言代碼對同時進行擦除的所述多顆樣品進行循環判斷獲取擦除信息;在所述多顆樣品進行擦除完畢后,基于嵌入測試平臺的外部語言代碼獲取每顆樣品的擦除時間和失效的存儲單元的地址以及執行錯誤樣品的停測,本發明可以對多顆樣品同時測試,提高芯片的驗證效率,能及早根據多個樣品的測試結果得出正確的結論,效率是現有程序的多倍,能及早發現問題解決問題。
聲明:
“多顆Norflash樣品同時測試的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)