本發明提供一種基于測試向量的測試系統,實現對數字集成電路的功能測試,功能測試主要測試芯片在一定時序下的邏輯功能,其基本原理是借助于測試向量,對芯片施加激勵,觀察其響應是否和設想的一致。功能測試可以覆蓋極高比例邏輯電路的失效模型。該調試技術支持單步測試系統包括兩大部分:運行于PC機的測試向量文件轉換軟件和數字集成電路芯片測試機組成。數字集成電路芯片測試機由CPU+FPGA的架構組成,CPU負責pattern文件存儲、轉換,測試過程控制、與主機通信等功能。pattern控制的邏輯電路由一塊FPGA實現,FPGA完成波形產生、Pattern?RAM的控制和采樣控制,同時控制驅動器及比較器以實現對被測對象的測試控制。
聲明:
“數字集成電路芯片測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)