本申請涉及一種芯片測試設備、系統、芯片及藍牙耳機。其中,芯片測試設備包括控制單元、掃描鏈、數據選擇設備和寄存器設備;數據選擇設備包括第一數據選擇器、第二數據選擇器和第三數據選擇器;寄存器設備包括第一寄存器和第二寄存器;在芯片內部引入輸入旁路直接連通到芯片掃描輸出的路徑,可以將自動化測試設備寄生應引起時序變化導致的失效與芯片本身缺陷引起的失效區分開,便于快速定位失效原因。芯片測試數據通過自動測試設備發送,只經過兩級移位寄存器,便于同時觀察自動測試設備的輸入/輸出狀態,沒有經過掃描鏈而直接送出,可以快速將掃描鏈的缺陷引起的失效與測試機的寄生干擾引起的失效區分開。
聲明:
“芯片測試設備、系統、芯片及藍牙耳機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)