本發明涉及固態硬盤耐久度測試領域,具體公開一種固態硬盤耐久度測試方法、樣本量計算方法及裝置,提取固態硬盤的功能失效率和不可糾正錯誤率;基于信心上限控制函數創建以功能失效率為影響因子的功能失效錯誤與樣本量關系模型,以及以不可糾正錯誤率為影響因子的數據錯誤與樣本量關系模型;確定耐久度測試的標準功能失效錯誤,將該標準功能失效錯誤代入功能失效錯誤與樣本量關系模型,獲得第一樣本量;將第一樣本量下的信心上限控制函數值代入數據錯誤與樣本量關系模型,獲得第二樣本量;在第一樣本量和第二樣本量中,選取較大的樣本量為測試樣本量。本發明在保證測試質量的同時,提高測試樣本量的精確度及測試效率,進而顯著節省研發成本。
聲明:
“固態硬盤耐久度測試方法、樣本量計算方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)