本發明提供一種存儲器測試裝置及一種存儲器芯片測試方法,改變傳統存儲器測試儀的失效地址存儲器的地址空間和被測芯片的地址空間一一對應的關系,將失效地址存儲器的地址空間分割為連續的存儲記錄單元,每個存儲記錄單元不再存儲測試通過的比特的地址數據,僅存儲測試失效比特的地址數據:存儲失效比特所在同測接觸的標識地址、失效比特所在芯片在其所在同測接觸內的相對地址、失效比特在其所在芯片內的地址信息等,由此在存儲器功能測試過程中,實現了多芯片的失效信息的同時存儲,以及失效地址硬件存儲空間的利用率和測試速度的大大提高。
聲明:
“存儲器測試裝置及一種存儲器芯片測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)