本發明提供了一種芯片內部動作時間的檢測系統及方法,芯片具有狀態輸出管,該檢測系統包括:檢測設備、外部時鐘、計算單元和定義單元;檢測設備具有失效地址存儲單元,用于對虛擬地址進行計數;其中,芯片的狀態輸出管與失效地址存儲單元的控制端相連;外部時鐘與失效地址存儲單元的輸入端相連;計算單元,估算要測量的動作時間,據此定義時鐘信號的周期;定義單元,在失效地址存儲單元中為每個時鐘信號定義不同的虛擬地址;檢測設備,檢測時,將虛擬地址存儲于失效地址存儲單元中;然后計算單元還統計存儲于失效地址存儲單元中的虛擬地址數目;此外,計算單元根據時鐘信號的周期和虛擬地址數目,從而準確地計算出芯片內部動作時間。
聲明:
“芯片內部動作時間的檢測系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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