本發明涉及一種半導體分立器件貯存壽命特征檢測方法和系統,包括以下步驟:獲取試驗樣品,對試驗樣品進行失效檢測并分類,得到合格樣品集和失效樣品集,對合格樣品集進行貯存可靠性特征檢測分析得到第一分析結果,對失效樣品集進行失效分析得到第二分析結果,根據第一分析結果和第二分析結果得到試驗樣品的貯存壽命狀態。通過對合格樣品集進行貯存可靠性特征檢測分析判斷合格樣品集中是否存在有貯存退化失效特征的試驗樣品,以及對失效樣品集進行失效分析判斷失效樣品集中是否存在有貯存失效信息的試驗樣品,根據分析結果得到試驗樣品的貯存壽命狀態,通過上述科學的貯存壽命考核方法,有效準確評估試驗樣品的貯存壽命狀態。
聲明:
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